Présentation du comite "Spectroscopie d'Electrons" :


Les techniques de spectroscopies électroniques ont beaucoup évolué ces dix dernières années. Ceci est notamment dû à la disponibilité d’instrumentation avancée pour les méthodes de photoémission (micro-sondes X, analyse angulaire parallèle, profilage en profondeur avec sources à clusters d’ions, analyses à pression ambiante, ARPES, analyses résolues en spin…), de microscopies sensibles à la surface (nano-sondes Auger, PEEM, spectro-microscopie XPEEM, …) et de par l’utilisation croissante des sources synchrotron de 3e génération (ultra-haute résolution en énergie, nano-faisceaux, résolution temporelle, utilisation d’X-durs). En même temps, des techniques connexes, plus confidentielles, mais pour autant importantes dans la compréhension des surfaces et des interfaces sont toujours de mise : diffraction de photoélectrons, spectroscopie de pertes d’énergie haute-résolution, photoémission inverse, microscopie d’électrons lents (LEEM).

Toute cette richesse de techniques et méthodes d’analyse utilisant les spectroscopies d’électrons est présente en France, depuis les laboratoires académiques et plateformes d’analyse de matériaux jusqu’aux centres industriels de R&D. Le potentiel du parc analytique français est donc important au niveau européen (ne serait-ce qu’avec la présence de deux centres de rayonnement synchrotron sur le territoire) et l’évolution de certains domaines est rapide.

L’objectif du Comité Spectroscopies d’Electrons est de rassembler et de structurer une communauté nationale et francophone de spécialistes et d’utilisateurs des spectroscopies d’électrons au sens large, ouverte au niveau européen et soucieuse de diffuser de manière dynamique les innovations scientifiques et techniques en cours. 

 

Coordinateur :

Olivier RENAULT

 

CEA- LETI, Grenoble

 


Sous-comités régionaux  :

  Affiliation Compétences Suppléant(e)
PARIS IDF

 


 
         

Fabrice BOURNEL
UPMC - LCPMR, Paris

 

Fonctionnalisation de surface
AP-XPS (TEMPO SOLEIL)

 

HUMBLOT Vincent
LRS UMR 7197 & UPMC

 

         
Amina TALEB
SOLEIL, Gif-sur-Yvette







ARPES, PES
LIgne CASSIOPEE (SOLEIL)

TEJEDA Antonio - LPS UMR CNRS 8502
ARPES, structure électronique





 
         
  Rémi LAZZARI
INSP, Paris








XPS, HREELS, IR

 

 

HRICOVINI Karol  - UNiv. Cergy-Pontoise XPS, spin-ARPES







 
         
 SUD-EST        
         

Geneviève GRENET
INL - EC, Lyon 

 

 

 

Surfaces d'oxydes, semiconducteurs  XPS, PES, XPD

 

 

BESSUEILLE François - INSA, Lyon                 
XPS, catalyse
  RENAULT Olivier
CEA-LETI, Grenoble
 
Semi-conducteurs
XPS, PES, HAXPES, XPEEM
   
 

LEROY Frédéric
CiNAM, Marseille

 

LEEM, PEEM, surfaces

 

ROBERT-GOUMET Christine - Université Clermont-Auvergne
         
SUD-OUEST        
         
Hervé MARTINEZ
IPREM-Univ. Pau 
Matériaux pour le stockage de l'énergie XPS, Auger, ToF-SIMS

DUGUET Thomas - CIRIMAT-Toulouse
XPS, simulation DFT/HF, Auger

  Eric BECHE
PROMES - CNRS, Perpignan 
XPS oxydes complexes et matériaux réfractaire LABORDE Etienne  (IE Université) - SPCTS Limoges
         
NORD-EST        
         
Sylvie BOURGEOIS
ICB, Dijon 
Réactivité des oxydes
XPS, PES, XPD
ZAFEIRATOS Spiros -  ICPEES, Strasbourg
XPS/UPS, LEIS
Sébastien CREMEL 
ArcelorMittal Global R&D 







 
XPS, métallurgie, transferts in situ, nano-Auger en compétences 







 
   
Julian LEDIEU
IJL Nancy







 
Métallurgie et Surfaces XPS, UPS, LEED, STM, nano-Auger -(TUBE)






 
FAGOT-REVURAT Yannick,
IJL ARPES (TUBE)







 
Pardis SIMON
UCCS, Lille 







 
XPS, LEIS, compétence EELS (TEM)







 
PONCHE Arnaud - IS2M, CNRS LRC7228







 
         
NORD-OUEST        
         
Mireille RICHARD
IMN, Nantes 
Matériaux et plasma
XPS
FERNANDEZ Vincent, IMN    
Responsable Plate-forme XPS
  Benoît LESCOP
UBO, LMB, Brest

 
Corrosion surface métalliques
XPS, UPS, MIES
ABABOU-GIRARD Soraya,
Institut de Physique de Rennes